高加速壽命試驗是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設(shè)計缺陷和不足的過程。高加速壽命試驗的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

檢測項目：

低溫步進應(yīng)力試驗 高溫步進應(yīng)力試驗 快速熱循環(huán)試驗 振動步進應(yīng)力試驗 綜合應(yīng)力試驗

適用范圍：

1.計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等

2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備；

4.其他：包裝箱、運輸設(shè)備等。

我們的優(yōu)勢:

實力強——安普檢測是行業(yè)內(nèi)領(lǐng)頭羊，專業(yè)從事檢測工作，具有CNAS、CMA認證資質(zhì)。

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