北京儀綜所低溫檢測實驗室，提供低溫環(huán)境試驗、低溫貯存/儲存、低溫工作/運行試驗，低溫溫度-70℃的環(huán)境試驗服務。為各類儀器儀表、電控儀器、醫(yī)用電氣設備、電路板卡、機箱機柜、軌道幾桶設備、測量儀器、信號控制設備等設備提供低溫測試。

檢測中心是省部級以上的第三方檢測機構，具備CNAS資質、CMA資質，獨立的操作空間，是大型的綜合性的檢測實驗室，提供一站式產品檢測服務。

低溫試驗所屬現代詞，指的是把試樣暴露在低溫環(huán)境中進行的試驗，通常用溫度和試驗持續(xù)時間表示嚴酷等級。

中文名稱：低溫試驗

英文名稱：low-temperature test

定義：把試樣暴露在低溫環(huán)境中進行的試驗，通常用溫度和試驗持續(xù)時間表示嚴酷等級。應用學科：機械工程（一級學科）；實驗室儀器和裝置（二級學科）；氣候環(huán)境試驗設備-氣候環(huán)境試驗設備測量方法（三級學科）

低溫試驗的目的是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性。

GB/T2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》是基礎的低溫環(huán)境試驗標準，幾乎所有的行業(yè)標準、產品標準、企業(yè)標準的低溫試驗方法，均按照此標準進行低溫試驗。

低溫試驗用于考核產品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性，常用于產品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。

低溫試驗的技術指標包括：溫度、時間、上升速率。

注意產品從低溫箱取出時由于溫度突變會產生冷凝水。（對溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗均適用）。

樣品放入試驗箱內為保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離少為5cm。

GB/T 2423.1中低溫的試驗方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變試驗結束后需要將樣品在箱體內恢復至穩(wěn)定狀態(tài)，或將樣品放置在常溫常濕環(huán)境下進行恢復至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會要求對樣品吹稍熱的風進行解凍再進行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。