失效率

現(xiàn)階段，失效率主要被用來對產(chǎn)品是否可靠進行量化描述。該特征數(shù)指的是在某時刻前始終處于正常運行狀態(tài)的產(chǎn)品，在運行到這一時刻后在單位時間內(nèi)出現(xiàn)失效問題的概率。作為對產(chǎn)品是否可靠進行判斷的主要依據(jù)，失效率等級往往與元件質量、可靠性水平密切相關，現(xiàn)階段，各版本國軍標所采取表述方式通常存在明確區(qū)別。例如，GJB65A-91 將繼電器對應失效率等級劃分成了 4 級，由低至高依次為 Y/W/L/Q 級，并指出電容器同樣遵循以上規(guī)定。GJB244-87 則將元件失效率等級劃分成為 W/L/Q/B 4級。對于由國軍標生產(chǎn)線所生產(chǎn)、已通過認證且在產(chǎn)品目錄中有據(jù)可循的缺少可靠指標的電連接器和云母電容器等元件，有關人員通常用 J 對其質保等級進行描述。

電子元器件在質量方面國際上有歐盟的CE認證，美國的UL認證，德國的VDE和TUV認證以及中國的CQC認證等國內(nèi)外認證，來保證元器件的合格。

組合電路

集成電路是一種采用特殊工藝，將晶體管、電阻、電容等元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件，英文縮寫為IC，也俗稱芯片。

模擬集成電路是指由電阻、電容、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號的模擬集成電路。有許多的模擬集成電路，如集成運算放大器、比較器、對數(shù)和指數(shù)放大器、模擬乘(除)法器、鎖相環(huán)、電源管理芯片等。模擬集成電路的主要構成電路有：放大器、濾波器、反饋電路、基準源電路、開關電容電路等。模擬集成電路設計主要是通過有經(jīng)驗的設計師進行手動的電路調(diào)試、模擬而得到，與此相對應的數(shù)字集成電路設計大部分是通過使用硬件描述語言在EDA軟件的控制下自動的綜合產(chǎn)生。

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